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半絕緣碳化硅的方阻、電阻率范圍通常在10?—10¹²Ω·cm之間，具體數(shù)值取決于材料純度、摻雜工藝及測量方法。以下是關(guān)鍵信息：電阻率范圍標(biāo)準(zhǔn)范圍：10?—10¹...
電阻率是衡量材料對電流的抵抗程度的物理量。電阻正比于通路的長度，反比于導(dǎo)體材料的橫截面積，電阻率就是這個比例常數(shù)。電阻率是電導(dǎo)率的倒數(shù)，是材料的基本特性。電阻率通常用希臘字母ρ來表示，量綱是ML3T-...
半導(dǎo)體晶圓行業(yè)的需求量也在不斷增加。一般的晶圓片厚度有一定的規(guī)格，晶圓厚度對半導(dǎo)體器件的性能和質(zhì)量都有著重要影響。而集成電路制造技術(shù)的不斷發(fā)展，芯片特征尺寸也逐漸減小，帶動晶圓減薄工藝的興起與發(fā)展，晶...
高功率紅外微波少子壽命測試是通過光電導(dǎo)衰減、電阻率分析等技術(shù)手段，評估半導(dǎo)體材料中非平衡載流子復(fù)合速率的檢測方法。該方法采用準(zhǔn)穩(wěn)態(tài)光電導(dǎo)（QSSPC）、高頻光電導(dǎo)衰減（HF-PCD）等獨特原理，可靈敏...
在半導(dǎo)體制造領(lǐng)域，鍵合晶圓技術(shù)廣泛應(yīng)用于三維集成、傳感器制造等領(lǐng)域。然而，鍵合過程中諸多因素會導(dǎo)致晶圓總厚度偏差（TTV）增大，影響器件性能與良品率。因此，探索提高鍵合晶圓 TTV 質(zhì)量的方法，對推動...
高精度少子壽命測試是評估半導(dǎo)體材料（如硅、鍺）中少數(shù)載流子復(fù)合速率的關(guān)鍵技術(shù)，廣泛應(yīng)用于太陽能電池、半導(dǎo)體制造等領(lǐng)域。少子壽命：去除雜質(zhì)缺陷可延長壽命，摻入金、鉑或電子輻照可縮短壽命。測試方法包括準(zhǔn)穩(wěn)...
紅外激光少子壽命 指半導(dǎo)體中非平衡少數(shù)載流子在紅外激光激發(fā)下從產(chǎn)生到復(fù)合的平均存活時間。 ?測試方法紅外脈沖激光 激發(fā)半導(dǎo)體材料，通過 微波光電導(dǎo)衰減法 （ μ-PCD ）檢測電導(dǎo)率變化，從而推算少子...
導(dǎo)電膜，即具有導(dǎo)電性能的薄膜材料，是一種重要的功能性材料，廣泛應(yīng)用于觸摸屏、太陽能電池、柔性電路等領(lǐng)域。方阻和電阻率，是衡量導(dǎo)電膜導(dǎo)電性能的重要指標(biāo)。方阻，全稱方塊電阻(Sheet Resistanc...
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2021年
公司成立1000萬
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專利技術(shù)365天
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技術(shù)文章 ARTICLES
2025-08-28非接觸電阻率測試儀是一種用于測量材料電阻率的儀器，具有非接觸式的優(yōu)勢，廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、材料科學(xué)、物理學(xué)等領(lǐng)域。與傳統(tǒng)的電阻率測試方法不同，不需要直接接觸被測材料表面，而是通過電磁場原理或者光學(xué)原理來實現(xiàn)電阻率的測量。非接觸電阻率測試儀的原理：1.電磁感應(yīng)原理：通過向材料施加交變電磁場，并測量材料的電導(dǎo)率或電阻率。電磁場通過材料時，材料的電性性質(zhì)（如電導(dǎo)率）會影響到電磁波的傳播特性，根據(jù)這一變化可以計算出電阻率。2.霍爾效應(yīng)原理：霍爾效應(yīng)是指在磁場作用下，帶電粒子在導(dǎo)體中受到...
2025-07-17PN型測試儀是一種常用于電子行業(yè)中的工具，主要用于測量半導(dǎo)體材料和器件的特性，尤其是在PN結(jié)（P型半導(dǎo)體與N型半導(dǎo)體接觸的部分）的性能測試中。PN結(jié)是現(xiàn)代電子設(shè)備中極其重要的基礎(chǔ)元件，廣泛應(yīng)用于二極管、晶體管等器件的制造中。核心工作原理是基于半導(dǎo)體的電性特征。半導(dǎo)體中的P型和N型區(qū)域形成PN結(jié)，PN結(jié)具有電氣性質(zhì)。在沒有外加電壓的情況下，PN結(jié)會形成一個電場，阻礙電流流動。而當(dāng)施加正向電壓時，電流便可以通過PN結(jié)流動；而施加反向電壓時，電流幾乎不會通過，除非電壓達(dá)到一定值（即...
2025-06-26霍爾遷移率測試儀的使用過程涉及到的步驟霍爾遷移率測試儀的使用過程通常包括以下關(guān)鍵步驟：準(zhǔn)備工作：檢查儀器：確保霍爾遷移率測試儀及其附件完好無損，檢查電源線、連接線等是否齊全。預(yù)熱儀器：根據(jù)儀器要求，可能需要預(yù)熱一段時間，以確保儀器內(nèi)部處于穩(wěn)定狀態(tài)。記錄參數(shù)：查看并記錄霍爾元件的規(guī)格參數(shù)，如尺寸、導(dǎo)電類型及材料等，這些參數(shù)在后續(xù)計算中會用到。連接線路：正確接線：按照儀器說明書或?qū)嶒炓螅瑢⒒魻栐c測試儀正確連接。通常，霍爾元件的工作電流端和霍爾電壓輸出端需要分別連接到測試儀的...
2025-06-26霍爾遷移率測試儀是一種用于測量半導(dǎo)體材料中載流子遷移率的重要儀器設(shè)備。在半導(dǎo)體和電子器件的研發(fā)、生產(chǎn)和質(zhì)量控制中，遷移率作為衡量載流子（電子或空穴）在材料內(nèi)部運(yùn)動速度的關(guān)鍵參數(shù)，直接影響器件的性能表現(xiàn)。核心原理基于霍爾效應(yīng)。霍爾效應(yīng)是指在導(dǎo)體或半導(dǎo)體材料中，載流子在磁場中的偏轉(zhuǎn)導(dǎo)致橫向電勢（霍爾電壓）的產(chǎn)生。當(dāng)在樣品中施加垂直于電流的磁場時，載流子在洛倫茲力作用下偏向一側(cè)，形成霍爾電壓。這個電壓與載流子濃度、遷移率、施加電場等參數(shù)密切相關(guān)。霍爾遷移率測試儀的具體工作流程：1....
2025-05-28無損電阻率測試儀是一種用于測試物質(zhì)電阻率的儀器，特別適用于不希望對樣品造成任何損害的檢測場合。這種測試儀廣泛應(yīng)用于工程檢測、材料分析以及質(zhì)量控制等領(lǐng)域。通過不同的物理原理和方法，可以實現(xiàn)對材料電阻率的精確測量，且不會對樣品本身產(chǎn)生任何物理或化學(xué)上的影響。無損電阻率測試儀的工作原理：1.接觸式測量原理通過在材料表面放置電極，施加一定的電流，并測量電壓降落。根據(jù)歐姆定律\(R=\frac\)（電阻R等于電壓V與電流I之比），可以計算出電阻值。而電阻率是電阻與樣品的幾何...
2025-04-30遷移率測試儀是用于測量材料中載流子（如電子、離子）遷移速率的專業(yè)設(shè)備，廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、新能源電池、納米材料等領(lǐng)域。其通過精確控制電場、溫度等條件，量化載流子在材料中的移動能力，為材料性能評估與研發(fā)提供關(guān)鍵數(shù)據(jù)。一、使用前準(zhǔn)備（一）設(shè)備檢查使用前需全面檢查遷移率測試儀各部件狀態(tài)。查看主機(jī)外殼是否完好，確認(rèn)顯示屏、操作按鈕、接口等無損壞；檢查電場發(fā)生裝置、溫度控制系統(tǒng)、數(shù)據(jù)采集模塊等核心組件連接是否穩(wěn)固。特別要檢查測試腔密封性，確保無漏氣、漏液現(xiàn)象，避免外部環(huán)境干擾測試結(jié)果。同...
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